薄膜厚度測定儀的原理及技術功能詳細介紹

 

　　原理：

　　采用激光測量位移差的方式，測量薄膜在一定張力下的表面平整度，并根據(jù)設定規(guī)則自動識別壞品。張力測量模塊由一個激光位移傳感器、驅(qū)動機構(gòu)組成。通過可調(diào)張力張緊薄膜被測物后，驅(qū)動機構(gòu)位移傳感器橫向來回掃描，得到膜片橫向的高度差，根據(jù)轉(zhuǎn)換關系轉(zhuǎn)換成張力均勻性能差異。

 

　　薄膜厚度測定儀的技術功能：

　　微電腦控制系統(tǒng)，大液晶顯示、PLC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數(shù)據(jù)查看。

 

　　嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制。

 

　　測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差。

 

　　支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇。

 

　　系統(tǒng)自動進樣，進樣步距、測量點數(shù)和進樣速度等相關參數(shù)均可由用戶自行設定。

 

　　實時顯示測量結(jié)果的較小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進行判斷。

 

　　配置標準量塊用于系統(tǒng)標定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性。

 

　　系統(tǒng)支持數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結(jié)果。

 

　　標準的USB接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)。